单片机智能温度计设计 第5页
若
图1—5 Flash编程 图 1—6 程序的校验
图1—7 Flash编程和校验的波形(高电平编程方式)
2.2.8 准备就绪/忙信号
字节编程的过程也可通过RDY//BSY输出信号来监视。在编程期间,当ALE变为高电平后,P3.4(RDY//BSY)端的电平被拉低,表示忙(正在编程)状态。编程完毕后,P3.4的电平变高表示就绪状态。
2.2.9 程序的校验
如果加密位LB1和LB2没有被编程,那么就可以对AT89C51内部已编好的程序进行校验。这时采用图6所示的引脚接法。程序存储器的地址仍由P1端口和P2端口的P2.0~P2.3输入,数据由P0端口输入。P2.6、P2.7和P3.6、P3.7的电平见表1-4。/PSEN保持低电平,而ALE、/EA和RST保持高电平。校验时,在P0端口上要求外接约10KΩ左右的上拉电阻。
程序加密位不能直接校验。加密位的校验可通过观察它们的功能是否被允许来进行。
Flash存储器编程和程序校验时的时序图见图1—7(高电平编程)和图1—8(低电压编程)。
图 1—8 Flash编程和校验的波形(低电压编程方式)
2.6 其它
为增强系统在工作现场的抗干扰能力,在硬件设计方面采取了一系列措施,例如,信号的输入/输出采用电平转换、光电隔离;正确配置接地系统,处理好共地信号;强电信号和弱电信号分开走线,传输线尽可能使用双绞线和屏蔽电缆;设置WDT时钟监视电路,自动监视CPU运行状态,出现故障自动处理,同时具有硬件自诊断功能,避免“死机”现象发生等等。
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