4  结论

为了实现焦面的自动化检测，本文介绍了几种方法，并确定了一种焦面判读的理论方法，在原来光具座测量焦距的方法基础上，用CCD代替人眼进行焦面判读以提高精度。本文还设计了与该方法相匹配的伺服系统。这个系统的核心是一部电脑，用电脑来处理CCD读进来的数据，然后把结果反馈给步进电机，让其动作，最终让CCD达到一个较为精确的焦面位置。当然，要使用步进电机来实现自动化，那么就牵扯步进电机和电脑之间的连接问题和步进电机的驱动问题，本文采用了8253芯片来做接口电路，采用达林顿管来做驱动电路，如此就完成了完整的伺服系统的硬件设计。另外，本文根据该理论方法设计出了软件的实现流程图，并实现了焦面判读的软件设计。

该系统完成了焦面判读程序的设计，完成了接口电路和步进电机的控制电路的设计，完成了步进电机控制程序的设计。若该系统能得以进一步的完善，一定可以达到设计的目的和要求。

致谢

作者从2006年12月开始接受尊敬的胡老师的毕业设计题目，并于2007年2月开始着手对透镜焦面检测的题目在胡老师的指导下进行了一些研究，至2007年6月中旬完成学士论文。本文是在胡老师的悉心指导下完成的，胡老师渊博的学识和开阔的思文，严谨的治学态度以及一丝不苟的工作作风以及乐观的生活态度等等深深地影响着作者，并令其终生受益，在此谨向导师胡老师表示最衷心的感谢并致以崇高的敬意。

在完成论文的过程中，院系的韩老师和于洵于老师也给出了良好的建议，再此对两位老师说声感谢。另外胡同学对本文的完成也给予作者很多的帮助，在此也对胡同学说声感谢。

本文是在与他们有益的探讨和热心帮助中完成的，真诚地感谢各位老师们和同学们的热情关怀和支持，感谢他们在生活及学习上给予的关心和照顾。

衷心感谢答辩委员会全体成员在论文评审中提出的宝贵意见和建议。

谨以此文献给所有关心、支持和帮助过作者的老师，亲人，朋友和同学们。

参考文献

[1]  康文新.CCD自动调焦系统的实验研究.交通科技与经济，2002年第3期，第48页。

[2]  张宇，吕晓旭.CCD辅助测量凸透镜焦距的一种新方法.大学物理实验，2006年6月出版，第19卷第2期，第1页.

[3]  张伟，张晓辉，刘振江.测量透镜焦距自动调焦方法研究.应用光学，2002年第23卷，第6期，第25页.

[4]  曹国荣.用线阵CCD测量透镜焦距.广西物理，1998年第19卷，第4期，第36页.

[5]  程红丽，杨华.用CCD测量透镜的焦距.大学物理实验，2002年12月出版，第13卷第4期，第16页.

[6]  何平安，林银森，余模智，刘凤兰.透镜焦距的CCD图像测量系统.武汉测绘科技大学学报,1999年3月，第24卷第1期，第84页.

[7]  刘宏，廖兆曙.基于线阵CCD红外焦距仪研究.武汉科技学院报，2002年10月，第15卷，第5期，第83页.

[8]  张伟. 具座实实现透镜焦距自动测量的实验研究.硕士学位论文.长春：张伟，2002年3月。

[9]  王庆有,孙学珠.CCD应用技术.第一版,天津:天津大学出版社出版,1993年3月.

[10]  李刚.现代仪器电路.第一版,北京:科学技术文献出版社2000年8月.

[11]  范志刚.光电测试技术.第一版,北京:电子工业出版社,2004年1月.

[12]  徐昌杰,权贵秦.应用光学.第一版,西安:陕西人民出版社,2002年9月

[13]  苏显渝，李继陶.信息光学，第一版，北京：科学出版社，1999年9月。

[14]  王荣良.计算机接口技术，第一版，北京：电子工业出版社，2003年1月

[15]  楼顺天，陈生潭，雷虎民.MATLAB 5.X程序设计语言，第一版，西安：西安电子科技大学出版社，2003年1月

[16]  孙建忠，白凤仙.特种电机及其控制，第一版，北京：中国水利水电出版社，2005年5月

[17]  彭鸿才.电机原理及拖动，第一版，北京：机械工业出版社，1996年10月

[18]  雷玉堂，王庆有，张伟风等.光电检测技术，第一版，北京：中国计量出版社，1997年5月

[19]  江晓安，董秀峰，杨颂华.数字电子技术，第二版，西安：西安电子科技大学出版社，2002年5月

[20]  何东健，耿楠，张义宽.数字图像处理，第一版，西安：西安电子科技大学出版社，2003年7月

[21]  刘均，高明.光学设计，第一版，西安：西安电子科技大学出版社，2006年1月

[22]  Lurali Subbarao Focusing techniques OPTICAL ENGINEERING Nov.1993 Vol.31 p2824 2836

[23]  C J Elliott Automatic optical measurement of contact lenses SPIE Vol.654 Automatic Optical Inspection 1986 P125 129

[24]  D J Moreland C A Hobson M J Lalor D B Clegg Real-time high accuracy measurements utilizing line-scan imae sensors SPIE Vol 654 Automatic Optica Inspection(1986) P26~34

[25]  R. A. Williams and M. S. Beck, “Introduction to process tomography,”in Process Tomography-Principle Techniques and Applications,R. A. William and M. S. Beck Eds., pp. 3–12, Butterworth-Heinemann, UK _1995_.

[26]  V. Mosorov, D. Sankowski, L. Mazurkiewicz, and T. Dyakowski, “The best-correlated pixels’ method for solid mass flow measurements using electrical capacitance tomography,” Meas. Sci. Technol. 13, 1810–1814 _2002_.