图3 偏光取向示意图
则必将出现一束椭偏光且主轴与初始振动方向OI平行，使之通过分束棱镜后在分束棱镜的两个主轴OR1和OR2方向上的分量相同，从而使光电管接收的信号经过差放处理后输出信号强度为零。利用公式本文来自辣*文-论'文&网，毕业论文 www.751com.cn 加7位QQ324'9114找源文：
= -tg2β/tg2(α-β) (2)
并由测出的α,β的大小，即可算出待测玻片的相位延迟量δ。
2.3 偏光干涉法 H
A是He-Ne激光器 B是分束片 C是起偏镜P1 D是待测玻片
E是检偏镜P2 F、G是探测器 H是微机
图4 偏光干涉法实验装置
偏光干涉是偏振光通过一块均匀或者不均匀的晶体平板后，出射光形成一种新的偏振态分布，再经过一检偏器后形成另一种新的偏振态分布。如图4，取待测玻片的某一主轴方向为坐标轴的x轴，光的传播方向为z轴。令起偏器在垂直于光入射方向的平面内以角速度ω匀速转动[4]，检偏器P2静止且与x轴夹角为Φ。假设t=0时刻，P1与P2平行均与x轴的夹角即待测玻片某主轴夹角为Φ，t时刻后与待测玻片某主轴的夹角为β，则光线穿过光路到达探测器的光强为
Ι= [cos2ωt–(Φ+) Φsin2], β=Φ+ (3)
此式化简为 (4)
其中。运用最小二乘法对光强曲线进行拟合便可求出参数c0，c1，c2，c3，即可相应的求出玻片样品的相位延迟δ。
2.4 自校准法 I
A是照射器 B是起偏器 C是补偿器 D是待测玻片
E检偏器 F是透镜 G是单色仪 H是晶体管 I是电脑
图5 自校准法实验装置
自校准即在规定条件下，为确定测量仪器或测量系统所指示的量值，或实物量具或参考物质所代表的量值，与对应的同一物质由标准所复现的量值之间关系的一组操作。在该实验中，实验装置如上图，将两个棱镜和补偿器安装在由计算机控制的转台上，转台可3600旋转[5]。为避免光源强度起伏引起测量误差，选用高精度稳压电源的氙灯作为入射光源。补偿器和待测样品的光轴均与起偏器偏振方向平行，检偏器与起偏器成角，光线经过检测光电系统，由探测器接收一系列光强Ι= a0 + b0 sin2θα + a4 cos4θα + b4sin4θα其中