A是起偏器 B是待测晶体 C是λ／4波片 D是检偏器
图6 λ／4波片法实验装置
如图6，本实验选用的实验装置有起偏器、被测晶体、消色差λ／4波片以及检测器。有上述的实验原理可知，放置实验器件时首先应使起偏器的起偏方向与检偏器的检偏器方向正交，只有这样在其间放置λ／4波片并转动它时，我们可以由系统处于消光状态从而使λ／4波片的快轴与起偏器的起偏方向重合。其次在起偏器和λ／4波片之间放置晶体时，若晶体的快轴方向与起偏器的方向成θ=π/4时此时视场最亮[8]，在视场最亮时保持晶体的位置，然后转动检偏器使系统达到消光状态，记下检偏器的转动角度γ，由
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可得γ=Φ/2，即由此可测得晶体相位延迟量Φ=2γ。
3. 测量晶体相位延迟方法的优劣比较
3.1 自校准法和偏光干涉法比较
相同点：它们均采用了最小二乘法，利用最小二乘法对光线强度进行拟合求出参数后，相应的求出玻片样品的相位延迟。
不同点：相比偏光干涉法，自校准法中出现了非线性矩阵，所以最小二乘法应用过程中需要更复杂的计算。
3.2 偏光干涉法和分束探测法的比较
相同点：偏光干涉法和分束探测法的实验装置均采用两个光强检测器。
不同点：偏光干涉分析法中使用的光线只局限在可见光区域，而分束探测法利用分束棱镜[9]取代光路中的元器件，使应用范围扩展到所有光谱范围，提高了实验精度。