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离子掺杂BSO晶体的生长与性能研究+实验分析 第4页

更新时间:2016-11-17:  来源:毕业论文
1.4.2   能谱与光产额
光产额的测量采用放射源137CS放射0.662MeV的γ射线激发晶体样品发出荧光,经光电倍增管实现光电转换,电信号放大后再由多道分析器(LeCroy Model 3001 QVT)进行处理,得到的电脉冲中心道数反映了γ射线在晶体中激发光子的数目。如果实验条件相同,电脉冲中心道数的相对值就表示各样品的相对光产额(相对于BGO,实验中供测试用的BGO样品尺寸为23.3mm×22.2mm×17.8mm,辣面抛光)。
图1.5是BGO、BSO及稀土掺杂BSO晶体对137CS的γ射线能谱。表1.3列出了BSO及掺杂BSO晶体的相对光产额和FWHM能量分辨率。实验结果表明,Ce、Nd和Eu掺杂对BSO晶体的光产额没有明显的改善。其中Eu掺杂BSO晶体的光产额略有提高,Nd掺杂对BSO光产额的影响不大,而Ce掺杂明显地降低了BSO的光产额。稀土掺杂对BSO晶体FWHM能量分辨率的影响与对光产额的影响相似[8]。
 
图1.5 采用137Cs获得 (a)BGO;(b)BSO;(c)Ce:BSO;(d)Nd:BSO;(e)Eu:BSO的能谱

表1.3 BSO与掺杂BSO晶体的光产额和FWHM能量分辨率
Crystal Channel Light yield(relative) FWHM(%)
BGO 599 100 16
BSO 128 21 33
Ce:BSO 46 8 65
Nd:BSO 115 19 35
Eu:BSO 143 24 30

1.4.3   激发发射光谱
费一汀等人[23]采用PERKIN ELMER LS-50B荧光光谱仪(Xe光源)测量了BSO及掺杂BSO晶体的荧光激发谱和荧光发射谱,测量范围分别为230―350nm和380―600nm。此外,还采用了由中国科学院上海硅酸盐研究所设计装配的X射线荧光光谱仪测量了BSO及掺杂BSO晶体的X射线激发荧光谱(SXL),测量范围为350―600nm,其中,X射线激发源来自具有4mA稳定电流和80kV电压的钨阳极管。表1.4给出了BSO及掺杂BSO晶体的荧光激发谱,荧光发射谱,X射线激发的发射谱。如该表所示,Ce和Cr掺杂使得荧光发射谱X射线激发的发射谱(SXL)的峰值向长波方向移动,而Eu掺杂使其略微向短波方向移动。然而,这些掺杂对荧光激发谱的峰位基本上没有影响。
 
表1.4 BSO及掺杂BSO晶体的激发峰,发射峰,XSL峰数据
Sample
Excitation peak(nm) Emission peak(nm) XSL peak(nm)
BSO 275(λem=470) 472(λex=286) 491
Ce:BSO 273(λem=510) 510(λex=275) 516
Nd:BSO 275(λem=491) 479(λex=275) 489
Eu:BSO 264(λem=444) 452(λex=275) 476
Cr:BSO 275(λem=520) 521(λex=275) 504
Fe:BSO 277(λem=483) 483(λex=275) 489
1.4.4   衰减时间
闪烁体的发光时间包括闪烁脉冲的上升和衰减两部分,但是上升时间要比衰减快几个数量级,所以只要用衰减时间就行了。衰减时间表示光子数衰减到最大值的1/e所需要的时间,记为t0,有时也用光子数衰减或达到最大值的1/10所需的时间t,由于发光机制不同,衰减曲线有时又分为快成分和慢成分[24]。BSO晶体的衰减时间有快本文来自辣\文/论^文?网,毕业论文 www.751com.cn 加7位QQ324~9114找原文,中,慢三个分量。文献报道的三个分量分别为2.4ns(6%),26ns(12%)和99ns(82%),实验结果如图1.6所示[25]。

图1.6 BSO晶体的时间衰减光谱
1.5   论文选题依据
任何一种走向产业化的晶体都需要大量的创新,不断的探索,尤其是闪烁晶体,生长大尺寸、高质量晶体是晶体实用化的首要要求。BSO晶体作为一种新型闪烁晶体,只要解决光产额不大以及大尺寸晶体的生长问题,将有可能在部分领域取代BGO晶体,特别是在高能物理实验方面,具有得天独厚的优势。目前,1英寸单晶的生长已取得成功,2英寸晶体的生长也已经初见成效[24]。在下一步的工作中,一方面要继续优化晶体的生长工艺,在晶体生长的成品率和合格率上下功夫,另一方面要通过掺杂效应,全面提高BSO晶体的闪烁性能。
本课题试图利用二步合成法制备BSO以及Ge:BSO原料,再采用坩埚下降法长出BSO和Ge:BSO晶体。通过测试Ge:BSO晶体的荧光衰减时间和发射光谱,探讨Ge掺杂对BSO晶体的生长与性能的影响。

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