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集成整形N合成器的压控振荡器设计 第7页

更新时间:2010-3-20:  来源:毕业论文
集成整形N合成器的压控振荡器设计 第7页
对于锁存器和N位计数器之间的时间间隔,由最初的电源脉冲决定。
控制写入
当(C2,C1)=(0,0)时控制写入被编程,表7对编程控制模块输入数据格式进行了说明。
比例值
在ADF4360系列中,控制写入中的P2与P1决定了比例值。
关闭
DB21和DB20提供了通过编程的关闭模式。
在编程控制的异步关机中,设备将在PD1位置1并且PD2位置0后立刻关闭。并且在这种关闭条件下,设备的关闭被充电激励电路所限制来以防产生频率跳变。当项PD1位写入1时关闭被准许,设备将在R计数器输出的第2个上升沿进入关闭过程,再此之后LE将成为高电平。当CE脚为低电平时,设备将立即忽略PD1和PD2的电平。
当关闭被激活时,操作按以下顺序发生:
1、所有活动的直流通路被移去
2、R,N和时钟输出计数器被强制设定在读状态
3、充电激励电路被强制设定为第三种状态
4、数字锁定检测被复位
5、RF输出将变为高阻态
6、参考输入缓冲电路禁用
7、输入寄存器保持工作,并可进行读取或写入数据
充电激励电路电流
CPI3,CPI2,CPI1决定电流设定1
CPI6,CPI5,CPI4决定电流设定2
真值表在表7中给出。
输出电平
PL1位和PL2位设定了VCO的输出点评。真值表在表7中给出。
复合锁定检测
控制写入的DB11是复合锁定检测位。当这个功能被允许使用后,保证RF输出只能在PLL被锁定的状态下才能变化。
CP的获得
DB10是控制写入中的充电激励获得位。当它被程序设定为1时,使用电流设定2。当它被程序设定为0时,则使用电流设定1。
充电激励第三态
这一位被置1时将充电激励设定为第三态。当置0时为正常操作。
相位检测器极性
ADF4360系列中PDP位用来表示相位检测器极性。当它被程序置1时使用片上VCO的被动循环滤波器或使用一个主动放大式滤波器。这一位也可以被置0,则代表需要使用一个主动间隔循环滤波器。
MUXOUT控制
片上多路复用器由M3,M2和M1控制。其真值表为表7所示。
计数器复位
DB4位是用作计数器复位的。当其置1时,计数器R,A,B都将被复位。在正常操作时,该位置0。
核心电平
PC1和PC2时用来设定VCO核心电平的。建议设定值为5mA。可参考真值表7
N计数器写入
表8提供了N计数器写入时的输入数据格式
A计数器写入
A5到A1定义5位A计数器。其使用范围为0(00000)到31(11111)
保留位
DB7是一个保留位,应当在程序中置0
B计数器写入
B13到B1定义了B计数器。其使用范围为3到8191
全部分频范围
全部分频范围由公式((P*B)+A)定义,P位比例系数值
CP的获得
DB21是N计数器写入中的充电激励获得位。当它被程序设定为1时,使用电流设定2。当它被程序设定为0时,则使用电流设定1。这一位也可通过控制写入的DB10来确定。无论是在操作写入或是N计数器写入时,位的操作值总是以最后一次写入为准。
2分频
DB22是2分频位。当被设定为1时,2分频功能被选中。当设定为0时,则为正常操作。
2分频选择
DB23是2分频选择位。当被置1时,2分频输出将作为比例输入。当被置0时,则用作基本的比例输入。举例来说,使用2分频特性并且PFD频率为200KHz, 用户需要N=5000以获得500MHz频率。当2分频选择位置高时,用户需保持N=2500。
R计数器写入
当(C2,C1)=(0,1)时R计数写入被编程。表格9表示了在进行R计数器写入时的输入数据格式。
R计数器
R1到R14定义分频比,其范围是从1到16383
反馈脉冲宽度
DB16和DB17定义了反馈脉冲宽度
锁定检测精确度
DB18位锁定检测精确度定义位。这一位设定了锁定状态下参考周期中小于15ns相位错误的个数。当LDP置1时,将使用5个周期;当LDP置0时,将使用3个周期。
测试模式位
DB19位测试模式位并且应当被置0。当TMB=0时,测试模式内容将被正常操作所忽略。注意:测试模式是用作出厂检测的所以用户不能自行定义。
频带设定时钟
这些位设定了频带选择逻辑所使用的时钟输入。R计数器的值为默认的时钟输入,但是当其值过高时,分频器能够转换R计数器输出为较小值,参见表9。
保留位
DB23和DB22是保留位,应当被程序置0。

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