基于STM32F103的机械位移测量系统设计

摘要：测量技术在当前的测量领域以及现代工业检测中都有着及其广泛的应用。目前传统意义上的测量位移的装置有很多的不足，比如精度不够高，体积太过大，操作过于复杂。有一种仪器比如数显千分尺恰恰能够满足这样的测量需求，它的优点就是将测量的位移量通过一定的操作转换成可以输出的数字量，同时，数显千分尺的精度比较高，体积也很小，测量的操作也很方便等。
本次设计的论文主要设计思路是，首先提出位移测量系统的重要背景及重要意义；其次，对本系统的总体方案进行细致的阐述，逐一分析本系统的优点以及存在的不足之处；再次，介绍了本次设计系统的硬件部分和软件部分的设计，最后就是对所得到的结果进行分析和解决操作。31949
毕业论文关键词：位移测量系统   千分尺    STM32F103
Mechanical Displacement Measurement System Based on STM32
Abstract：Displacement measurement system is intelligent instruments which combines mechanical, optical, electronic technology. It is widely used in advanced manufacturing technology, scientific research and modern industrial inspection, quality control and manufacturing technology. Traditional mechanical displacement measurement device has low accuracy, large volume, complex operation shortcomings, so cannot meet the needs of production now, but digital display micrometer can be used for testing the mechanical position, with high precision, small volume, convenient operation and so on.
First ,this paper introduces the background and the significance of displacement measurement system; second ,introduces the overall scheme of the system, analyzes the advantages and disadvantages of the system; third, introduces the design of hardware and software of the system, introduces the hardware circuit and software structure; and last, make an analysis and summary to the paper.
Keywords:   displacement measuring digital display micrometer MCU
目    录
    1 绪论    1
1.1引言    1
1.2 课题主要内容    2
1.2.1 研究目标    2
1.2.2主要工作    2
1.2.3 论文的结构安排    2
1.3 本章小结    3
2 系统总体方案    4
2.1 总体设计方案    4
2.2设计难点    4
2.3本章小结    5
3 系统硬件设计    6
3.1 MCU控制电路的设计    6
3.1.1 MCU的选择    6
3.1.2 JTAG口的设计    7
3.2 电源电路的设计    7
3.2.1 线性电源的设计    7
3.2.2 Boost升压电源的设计    8
3.3指示灯接口电路    10
3.3.1 指示灯接口电路    10
3.4 I2C总线介绍和接口的设计    11
3.4.1 I2C总线介绍    11
3.4.2 EEPROM接口电路    12
3.5 SPI总线和接口的设计    14
3.5.1 SPI总线介绍    14
3.5.2 千分尺和MCU接口    14
3.6 与上位机接口电路设计    15
3.7 过流保护电路    16
3.8 本章小结    17
4 系统软件设计    18
4.1 软件部分    18
4.2数显千分尺的驱动    18
4.3 24C01的驱动    20
4.4上位机软件设计    22
4.1.1 LabWindows/CVI介绍    22
4.1.2 上位机的操作界面    22
4.1.3 上位机的部分功能设计    22 基于STM32F103的机械位移测量系统设计:http://www.751com.cn/guanli/lunwen_28284.html