3) 寻找合适的脉冲激光沉积参数以在薄膜上生长电极，为测试铁电回线等电学测量作前期准备；
4) 利用铁电测试仪来测C4H8NCdCl3薄膜的电滞回线，从而证实薄膜在宏观上具有铁电性。
本课题将学习同实验室Im课题组的研究，并且和南京大学与东南大学相关课题组紧密合作,制备高质量的有机分子铁电薄膜, 有助于对其物理性质的理解、发现其可能的用处，进一步推动这类材料在微电子和光电功能器件方面的应用。 有机铁电薄膜制备及其光电性能表征(3):http://www.751com.cn/huaxue/lunwen_16926.html