1.2  相位差测量技术的发展现状

   随着电子技术和计算机技术的发展，相位测量技术得到迅速的发展，尤其在电气、电力技术方面得到极大地重视和发展。目前，相位差测量技术已经完善，测量方法及理论也比较成熟，相位测量仪器已系列化和商品化，广泛应用于测量RC、LC网络、放大器相频特性以及依靠信号相位传递信息等方面的电子设备。

   现代相位测量技术的发展可分为三个阶段源[自*751^`论/文'网·www.751com.cn/

   第一阶段是在早期采用的如阻抗法、和差法等，这些测量方法通常采用比对法和平衡法，虽然方法简单，但测量精度较低；

   第二阶段是利用数字专用电路、微处理器等来构成测试系统，使测量精度得以大大提高；

   第三阶段是利用计算机及智能化测量技术，从而大大简化程序，增强功能，使得响应的产品精度高、功能更全。同时，各种新的算法、测量手段和新的设计方法及器件也随之出现。

   目前，国内外提出了许多改进的高精确度的相位测量方法，主要包括：

  （1）用专用数字处理芯片，利用正余弦表格及傅里叶变化方法来计算相位差，可大大提高测量精度。

  （2）采用新器件及设计方法提高相位测量精度及展宽工作频率范围。

（3）采用新的算法来实现相位差测量。

（4）采用高精度相位测量设备，通过相位输出信号，利用桥路与输出信号进行比较，从而测出相位差。

在相位/频率测量技术方面，美国一直处于领先地位，主要的研究机构及公司有Agilent(安捷伦)、Tektronix(泰克)、AD—YU 公司及DRANETZ 实验室。俄罗斯，英国，德国在此领域也具有较高的水平。国外的主要产品有美国安捷伦公州的般通道Agilent53131IA 型通用计数器。 

国内测相领域起步比较晚，相位测量技术的研究从70年代开始，早期研究相位测量,的单位和技术人员较少，国内生产商品化相位计的主要厂家仅有天津中环电子仪器公司，相位计量机构是中国计量科学研究院和国防科工委产品也主要针对于工频信号(50Hz)的相位测量。  

总的来说，我国的相位测量技术与国外有较大的差距，主要体现在产品种类较少配套产品少；产品测试功能单一；仪器精度、数字化和自动化程度不高；相位计量标准不完备。因此对高精度相位测量方法的研究和相位计产品化设计刻不容缓。