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电荷耦合器件成像性能测试与分析(3)

时间:2017-05-07 19:37来源:毕业论文
大规模发展成为可能。 目前最好的CCD 读出噪声为4个电子(均方根值。努力的方向为 1个电子。1


大规模发展成为可能。
目前最好的CCD 读出噪声为4个电子(均方根值。努力的方向为 1个电子。1 电荷耦合器件成像性能测试与分析(3):http://www.751com.cn/wuli/lunwen_6615.html
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