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LabVIEW冲击式动态参数平台测试系统设计(7)

时间:2017-02-26 17:38来源:毕业论文
3 力传感器的选型 选择测落锤冲击力的压电式力传感器主要从测量范围(5000N)、测量误差(1% FS)、工作环境这几个方面进行考虑。最终选择PCB公司的型


3 力传感器的选型
选择测落锤冲击力的压电式力传感器主要从测量范围(≥5000N)、测量误差(≤1% FS)、工作环境这几个方面进行考虑。最终选择PCB公司的型号为CL-YD-305A的压电式力传感器。
传感器技术指标如下表:
技术指标    加速度传感器    压力传感器    力传感器
型号    CA-YD-108    CY-YD-205    CL-YD-305A
量程    10000 m*
30MPa    60 kN
过载能力    120%    120%    120%
灵敏度    13.02 pC/ m*
12.62 pC/ Pa
4.07 pC/kN
固有频率    0.5——5000 Hz    ≥200kHz    ≥500kHz
测量误差    ≤1%FS    ≤1%FS    ≤1%FS
输出方式    LS    LS    LS
工作温度    -40~150℃    -40~150℃    -40——200℃
3    测试系统的虚拟仪器模块设计
3.1    数采卡模块的设计
3.1.1    数采卡的选型
对于本测试系统来讲,信号频率非常高;所有通道采集的同步性要求较高,如果不能同步采集,就不能完成对落锤冲击时各种动态参数的合理分析。为了满足系统高精度、高带宽以及多通道并行采集的要求,在系统中选配了10MSPS、14-bit、4-ch的高速高精度并行数据采集模块JV52114。
JV58114 模块简介
JV58114 10MSPS 14-bit 4-ch并行数据采集模块。JV58114是符合PXI/CPCI规范的10MSPS 14-bit 4-ch并行数据采集模块。它结合最新计算机与虚拟仪器技术,采用板载深存储器SDRAM以提高可靠性和宽带信号的海量数据存储能力。板载深存储器SDRAM的作用类似于大型FIFO,用于模数转换的数据输入,而且无需额外的应用编程。板载深存储器的采用解决了PXI/CPCI总线带宽的限制,特别是当多个数据采集模块同时工作的情况下。
(1)    主要技术指标:
A/D分辨率:14bit
输入耦合方式:DC或AC
输入接地选择:信号(SIG)或接地(GND)
输入电压范围:±25mV,±50mV,±100mV,±250mV,±500mV,±1V,±2V,±5V,±10V,±20V
通道之间相差:<1.5º(f<300KHz)
A/D非线性:±2.5LSB
交流精度:0~300KHz:<0.5%FSR(用有效值计算)(500mV以上量程档)
存储深度:4Msa/ch(软件可设置采样长度)
采样频率:最高4MSPS,向下分为2MSPS,1MSPS,500KSPS,200KSPS,100KSPS,50KSPS,20KSPS,10KSPS,5KSPS,2KSPS,1KSPS,500SPS,200SPS,100SPS,50SPS,20SPS,10SPS
触发方式:内触发,外触发,软件触发,系统同步触发
工作温度:0℃~50℃
相对湿度:0~85%
(2)    模块特点
JV58114 是10MSPS 14-bit 4-ch高速、高精度3U CPCI/PXI 数据采集模块。具有如下特点:
LabVIEW冲击式动态参数平台测试系统设计(7):http://www.751com.cn/jixie/lunwen_3420.html
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