电子元器件的老化实际上是对元器件的一种可靠性筛选试验，其目的是选择具有一定特性的产品，或是为剔除早失效稳定失效率而进行的一种试验，是提高产品使用可靠性的重要手段。【12】

电子元器件一种常用的老化筛选方法为：高温贮藏。电子元器件的失效多是由于体内和表面各种物理、化学变化所引起，和温度有密切的关系。【12】温度升高以后，化学反应速率加快，失效过程得到加速，使有缺陷元器件能及时的暴露，从而加以剔除。【12】高温筛选在半导体器件上被广泛采用，它能够有效地剔除掉表面沾污、键合不良、氧化层有缺陷等失效机理的器件，通常在最高结温下贮存24至168小时。【12】高温筛选简单易行，费用不大，在许多元器件上都可以施行；通过高温贮存以后可以使参数性能稳定下来，减少使用中的参数漂移。【12】

2.4  相关法

相关法是时域中描述信号相似性特征的一种常用分析方法。数字相关法针对超声波料位测量中大量回波信号的一种多幅连续相关的处理方法。这不仅有效的排除了随机干扰，同时保留了测量信号的完整信息。【13】

相关分析包括自相关分析和互相关分析，其中互相关分析信噪比较自相关分析要高，且互相关的精度容易保证。【20】