2002年,有报道说海特光电有限责任公司研制的LD参数连续测量系统可用于小功率的参数测量,而且可以自动绘制光谱曲线[3]。此外为了满足市场需求,还研发了这一系统相关的一系列产品。可根据不同的用户需求更换不同的夹具适应科研和生产需要。
2003年,上海同济大学学报上出现了一款基于PC的检测系统,这个系统能自动运作,在运作一次的过程中同时循环地测量48个激光器,采集卡得到数据将数据传送给PC进行程序分档。其本质是利用微机的功能从测试程序端提高测量的效率和自动化程度。
近年来,一些厂家都在开展有自己专利的测试系统的研发工作,但是这些系统通常比较简单不够一体性和简洁,效果不佳,不灵活不可扩展、性能指标不高、功能单一、数据管理和处理能力不强、没有与PC机很好的结合。
半导体激光器国内外研究现状和发展趋势(2):http://www.751com.cn/yanjiu/lunwen_71531.html