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国内存储测试技术的研究起步较晚。20世纪80年代初期，有关科技人员意识到了以数字存储为特征的新型测试方法的发展前景[11]。1991年，祖静等研制的“电子测压蛋”作为新型火炮膛压测试装置，采用先进的电子存储测试技术，不需引线、钻孔，能够自动测量且测试精度高，达到了世界先进水平[12]。1990年，在第一届全国电子技术应用研讨会上，祖静提出了“存储测试技术”这个名词，并进行了详细论述；之后，在大量高难度动态测试试验的基础上，祖静又提出了“新概念动态测试”的概念，研究把测试仪置于恶劣的被测环境中所必须面对的各种问题[13]。1996年，姚赤东等研究了导弹引信动态数据存储仪，用于记录某型导弹在滑轨及机载飞行过程中引信的多普勒信号、脉冲与数字状态信号[14]。2011年，为全面记录复杂的高冲击加速度信号，王华军等设计了随弹三维测试固态记录器[15]。该系统具有数据采集速度快、存储容量大、系统体积小、功耗低等特点，适用于恶劣环境及不需要外部能量供应的低功耗应用场合。
存储测试的思想来源于电子计算机的信息存储。随着现代微电子学的发展,出现了中大规模CMOS存储器,使得存储测试得以实现。随着集成水平的提高，存储测试系统的性能也在得到不断的完善，应用范围也越来越广，发挥的作用也越来越大。同时，现代控制理论与技术的发展、人工智能的研究成果，为存储测试的发展注入新的活力，使得存储测试系统记录方式变得大容量、多通道、多样化、可编程，并出现了智能化和自适应的存储测试系统，使存储测试系统的工作可靠性以及使用方便性得到大大提高[16]。