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2008年C. Monte等发表了在真空环境下的热辐射和辐射率的论文。文章中提到了[6]利用真空环境减少环境热辐射所带来的误差。提出了在利用空间红外遥感设备校准测量-173℃~430℃温度范围和光谱发射率。满足工业上对于真空环境下进行发射率测量的要求。并且在0℃~430℃范围内进行无环境干扰的光谱反射率测量。这个一般意义上的减少背景校准的设备是将一个放射腔与探测腔通过经液氮冷却的光束线连接起来。转换和校准元件在放射腔和探测腔内确保了实验装置在真空条件下能校准不同的发射源并与之进行比较。另外在发射腔内，一个当作参考的经液氮冷却的黑体和一个通过铟定点的黑体辐射源在辐射源一侧通过液氮冷却的光束连接。实验中利用真空可变低温黑体（VLTBB）作为在-173℃到177℃的参考黑体。通过液氮和电加热器进行温度的调节该黑体在被划分为三个区域，每个区域都通过PID调节控制温度微调。论文网
在黑体上开小孔，使小孔的温度与壁面温度最大程度的保持一致，并且用七个铂热电阻温度器对温度进行监控。其中一个热电阻放置在恒温器内其它六个放置在小孔中。利用真空可变中温黑体（VMTBB）作为150℃~430℃的参考黑体，除了不用液氮冷却，其它的温度调节方式基本与低温参考黑体相同。他们成功的实现了在中低温情况的测量，并且他们提出的利用真空环境减少背景辐射的实验方法让实验数据在稳定性和实验精度方面都有了很大的改善。
2009年宋扬等[7]对光谱发射率技术进行了系统的总结和分析，指出影响材料光谱发射率的因素很多，且应用背景差异大，各国均建立了各具特色的发射率测量装置。根据测量的特点和应用范围，发射率测量方法分4 大类：量热法、反射法、能量法以及多波长法。针对各种测量方法介绍了基本原理、装置特点、技术指标和发展现状。简单介绍了基于红外傅里叶变换红外光谱仪而建立的光谱发射率测量系统，进而描述了材料发射率在重要领域的具体应用情况。分析了我国在发射率测量技术方面尚存在的问题，展望了我国发射率测量技术的发展趋势和发射率数据库方面仍需努力的进一步工作。指出了材料发射率测量已经经历了六七十年的发展过程。有以下4个特点：
(1) 现金有多种方法并存， 并且没有一种测量方法取得当前的主导地位；(2) 没有国际和国家的权威标准建立，缺乏权威数据库的建立，缺乏国际之间的比对；(3) 很少有商业的标准设备出售；(4) 整体测试水平并不高。
2012年谭洪[8]等用傅里叶变换红外光谱仪采用能量法进行了光谱辐射率的试验研究分析了光谱仪的校准方法。文中指出傅里叶变换红外光谱仪测量输出的能量信号不直接等同于样品表面的光谱辐射亮度，其中涉及到了响应函数R以及光谱仪自身的背景辐射信号S0，为了获得准确的实验结果需要对响应函数R和背景辐射S0进行校准。光谱仪检测器线性度较好时,可以用双温黑体法获得R和S0。利用线性拟合法，通过试验测量多个温度的黑体辐射信号, 而后在某一波长下通过普朗克定律获得不同温度下的理论辐射量, 不同温度下黑体辐射信号测量值与理论值直接进行线性拟合, 最终得到该波长下R与S0,在不同波长下重复拟合即可得到宽波长区域内的光谱响应函数R与背景辐射S0。