目的：对kintex7芯片的相关内核电压和温度进行实施监测，监测内核温度和相关内核电压是否在合理的范围内。                                                              
意义：当温度超过芯片的承受范围和由于外界原因导致内核电压不正常时，                                 
需要手动关闭设备，防止芯片损坏，在一定程度上延长了芯片的寿命，保证整个系统的完好性。                                                                                                                                                                                                                                                               
1.3  本课题的研究范围及要达到的技术要求                                       
Kintex7芯片是Xilinx公司最新推出的一个系列芯片，作为Xilinx公司7系列的一种芯片，具有良好的性价比，可编程资源充足，适合复杂的大型产品设计。在大型产品设计中，Kintex7芯片加载完毕后，芯片温度会逐渐升高，为此需要增加散热片和风扇等散热设备，防止芯片温度过高。即便如此，对芯片内核温度的监测也是必要的，芯片温度过高会导致芯片内核相关电压出现异常，可能会损坏芯片。另外，芯片的内核电压还和外围电路的设计和外界环境有关。                                    
基于以上原因Xilinx公司在设计Kintex7芯片的时候在芯片内部增加了传感器、12bitADC模块、控制寄存器模块和状态机寄存器模块，用于实现FPGA内核温度和相关内核电压的数字形式输出，从而实现了对内核温度和电压的相关监测。                                                                                                 基于Kintex7内核电压和温度的监测设计(4):http://www.751com.cn/zidonghua/lunwen_17626.html