（2）为CBGA器件的开发和应用提供理论依据；
（3）采用有限元数值模拟分析焊点失效机制，对CBGA器件寿命预测以及电子行业产品寿命评价有着重要的理论指导意义。
1.5研究方法
（1）查阅文献，了解学者们对CBGA器件的研究及本次选题的意义所在；
（2）通过学习和查阅资料，学会选用实验设备及ANSYS分析软件；
（3）建立CBGA模型并进行蠕变分析，多次更改模型尺寸进行蠕变分析，根据结果选出最优结构。 ANSYS的CBGA器件结构优化设计(4):http://www.751com.cn/zidonghua/lunwen_30187.html