P5.2/SOMI1    46    I/O    通用数字I/O引脚/USART1的从输出、主输入或SPI模式
P5.3/UCLK1     47    I/O    通用数字I/O引脚/从机发送使能——USART1/UART或SPI模式，时钟输出——USART1/SPI模式
P5.4/MCLK    48    I/O    通用数字I/O引脚/主系统时钟MCLK输出
P5.5/SMCLK    49    I/O    通用数字I/O引脚/子系统时钟SMCLK输出
P5.6/ACLK    50    I/O    通用数字I/O引脚/辅助时钟ACLK输出
P5.7/TBoutH    51    I/O    通用数字I/O引脚/切换所有的PWM数字输出口为高阻抗——定时器B_3 TB0～TB2
P6.0/A0    59    I/O    通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达0
P6.1/A1    60    I/O    通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达1
P6.2/A2    61    I/O    通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达2
P6.3/A3    2    I/O    通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达3
P6.4/A4    3    I/O    通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达4
P6.5/A5    4    I/O    通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达5
P6.6/A6    5    I/O    通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达6
P6.7/A7    6    I/O    通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达7
非RET/NMI    58    I    复位输入/不可屏蔽中断输入口，或自动加载程序启动（FLASH版本器件有此功能）
TCK    57    I    测试时钟，TCK是用于器件测试与自动加载程序启动的时钟输入接口（FLASH版本器件有此功能）
TMS    56    I    测试方式选择，器件编程与测试的输入口
TDI    55    I    测试数据输入口，器件的保护熔丝被连接到TDI
TDO/TDI    54    I/O    测试数据输出口/编程数据输入口
Veref+    10    I/O    送到模数转换器ADC12的外部基准电压
Vref+    7    O    送到模数转换器ADC12的内部基准电压的正输入端
Vref-/Veref-    11    O    送到模数转换器ADC12的内部基准电压或外部加的基准电压负端
XIN    8    I    晶体振荡器XT1的输入口
XOUT/TCLK    9    I/O    晶体振荡器XT1的输入口或测试时钟的输入口
XT2IN    53    I    晶体振荡器XT2的输入口，只能接标准晶体
XT2OUT    52    O    晶体振荡器XT2的输出口
AVcc    64        模拟电源的正输入端，送到模数转换器ADC12的模拟部分
AVss    62        模拟电源的负输入端，送到模数转换器ADC12的模拟部分
DVcc    1        数字电源的正输入端
DVss    63        数字电源的负输入端 基于I2C总线的存储系统设计+源代码+原理图(7):http://www.751com.cn/zidonghua/lunwen_9612.html