全文共五章: 第一章为绪论,提出了本课题的研究背景和意义,并简要介绍了国内外侵彻测试系统的
发展现状以及未来的发展趋势。 第二章为存储测试系统简介,简要介绍了本次设计的基本思路, 第三章为硬件电路设计,主要介绍了存储测试系统的电路设计以及原件选型的方案。 第四章为中心控制部分设计,主要介绍了控制芯片的选型,周边模块设计以及编程方案。 第五章为实验部分,介绍了部分重要实验。
2 存储测试系统简介
2.1 存储测试技术概况以及优点[14]
存储测试技术是先进的侵彻测试技术中最为先进的一种,它可以在弹体上独立完成对被 测信号的数据采集和存储,实时完成信息的采集和记录。在实验结束后,将系统记录的数据 和信息进行回收和分析,便于对侵彻过程的研究。存储测试系统具有体积小,能胜任绝大多 数高冲击测试的数据采集的优点。来!自~751论-文|网www.751com.cn
2.2 存储测试系统的组成。
存储测试系统的组成如图 2.1 所示。信号被压电传感器所感知,传入调理电路。调理电 路可以对接收到的信号进行放大、滤波等处理,使之变为适合 A/D 变换的信号。在 A/D 变换 部分中,A/D 变换模块通过采样的方式将连续的信号变为离散的数字量,采样所得的数字量 传入存储电路中保存起来,在实验结束之后通过数据接口电路传入计算机中,通过软件对冲 击信号进行还原和显示。
图 2.1 存储测试系统的组成
3 硬件电路设计
3.1 硬件电路基本设计思路
在一般的侵彻存储测试系统的设计思路的基础上