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    摘要对Wallston棱镜的基本设计理论进行了阐述,在实例的基础上进行了光学公式的演算,分析了Wallaston棱镜的棱镜各参数与相干平面位置、分束角、相干平面倾角之间的相互关系,基于这几个参数的相互关系可以得到Wallaston棱镜的设计结果。另外用Matlab程序对Wallaston棱镜的棱镜各参数进行详细设计运算,对运算的结果进行分析设计后,就可以设计出能应用于测量微小物体具有显微能力的偏光棱镜。
    微分干涉相衬显微技术的核心技术其实就是光的偏振原理。为了达到预期目的,相干光的分束角必须控制在比显微镜的极限分辨率小的范畴内,这样的话,棱镜表面的细微变化就能够通过棱镜而被放大为明显的光强的变化,样品表面还会具有阴影效果,看起来会有相对较强的立体感,给人以直观地反映。微分干涉相衬显微镜的分辨率已经达到纳米级别,能够对普通显微镜都难以观察到的细微结构给人以直观的印象。21117
    本文在先对微分干涉显微镜结构具体描述后对显微镜的光学系统原理也做了详尽的分析,原来的显微镜内部没有检偏起偏器件,因此我们在现有显微镜的基础上,将这些器件全部加进去,对机械机构做了新的设计,同时设计了多种方案,相互对比选择比较实用的方法。
    简单地说,微分干涉相衬技术就是对Wallaston棱镜的一些参数进行改变和设计,在这里我们主要是将Wallaston棱镜的香干表面移到棱镜的外部,从而达到物镜后焦面和相干平面重合的效果,这样就可以使微分干涉相衬显微术运用于高放大倍率光学显微镜中。由于Nomarski棱镜参数之间彼此影响,因此 Nomarski 棱镜的光学系统结构的设计公式也能通过对他们之间的彼此关联的分析详细推导出来。本文中还运用了Matlab 软件对Nomarski 棱镜的光学系统结构做了具体的实例设计。并且我们选取了其中一组相对合适的Nomarski 棱镜对其进行参数设计,得到了一些中肯且价值比较高的结论。
    关键词:微分干涉相衬;Wallaston棱镜;分束角;相干平面;Matlab程序
    毕业论文设计说明书(论文)外文摘要
    Title  Differential interference contrast microscopy Wallaston prism  Design and Research                                                                        
    Abstract
    Prism for Wallston basic design theory expounded in the instance on the basis of optical calculus formulas were analyzed Wallaston prism prism plane of the parameters and coherent position, beam angle, coherent relationship between the angle of the plane, which On this basis, a practical design was the result Wallaston prism. Also using Matlab procedures specific to the parameters calculated by analyzing the result of the operation, designed a sophisticated microscopy can be applied to measure the actual polarizing prism.
    Differential interference contrast microscopy technique is actually polarized light interferometry. Because the two beams of coherent light beam angle significantly smaller than the resolution limit of the microscope objective, which would make subtle changes in the height of the sample surface on a clear interference with a strong background light changes manifested, so that it has a shadow effect, with relatively strong three-dimensional, microscopic directly reflect the sample surface contours. Differential interference contrast microscopy with nanoscale phase resolution, can see ordinary optical microscope is difficult to observe the fine structure.
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