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3 受激发射损耗显微镜
受激发射损耗显微镜（STED，stimulated emission depletion）于 1994 年有 S. W. Hell 等人提出，其核心思想是利用第二激光器（STED 激光器）引起 PSF 边沿区域的荧光分子受激辐射，然后通过滤波获得尺寸压缩的点扩散函数[10]。STED 技术与结构光照明结合，可实现约 30nm 的横向分辨率；与 4Pi 显微技术相结合，可实现 30-40nm 的轴向分辨率。
4 STORM
STORM（stochastic optical reconstruction microscopy）是利用荧光分子个体高精度定位技术实现超分辨的。为避免邻近荧光分子图像的相互交叠，该技术采用发光可控的荧光分子标记样品。通过使不同的荧光分子在不同时间受激发光，将空间上交叠的分子图像在时间上分开，从而实现整体的高精度定位成像。华人科学家庄小威提出，应用该方法可得到20nm 的横向分辨率。
上述光学成像技术无论是近场还是远场还是依赖于光强差的直观成像。但当背景杂乱、强度差别不明显时，用强度来区分目标就比较困难．而采用光的偏振特性可以克服光强差太小所带来的问题，有效地识别目标。偏振是光的固有特性之一，任何目标在反射、散射和电磁辐射的过程中都会产生由其自身性质决定的特征偏振， 即光偏振状态的变化反映了目标的物理信息。偏振信息可以表征目标的表面特征、形状、折射率和粗糙度，同时偏振信息与光谱及强度信息的相关性较弱，因此有很大潜力改善成像性能，有助于提高目标探测和地物识别的准确度。当前，偏振成像技术已应用于遥感、显微成像、光学监测等诸多领域