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测试现场使用引线直接将测试信号连接到外部仪器，在测量动态信号是会出现引线引线缠绕难以安装等情况，系统组建相对困难。若在不影响被测信号的前提下将测试仪器以及存储设备放置在被测对象内部或者附近，实时采集信号并记录存储，待完成测试后回收系统读取信息，将是解决前述困难的有效途径。60924
国外从20世纪70年代末期开始存储测试技术的研究。国内主要从20世纪80年代初开始进行研究。为了解决火炮在膛内、飞行、和撞击目标时的各种动态参数获取的问题，国内学者提出了一种新的弹上参数的测试方法——存储测试技术。
2006年，马游春，张涛等利用XILINX公司的FPGA芯片XC2S30内部的双口RAM来集成FIFO，并据两种不同的三星公司FIASH存储器页编程缓冲寄存器容量，设计了两种不同的FIFO缓冲高过载存储测试解决方案，最大限度地利用了FPGA的内部资源[16]。论文网
2007年，李红旗等采用高速可编程逻辑器件EPMl270(CPLD)，实现对弹丸内弹道加速度高速采样存储，进而通过加速度积分法测得内弹道弹丸初速度[21]。
2009年，李幸基于炮弹爆炸温度场高温、高压，常规测温方法难以实现，设计了存储式温度测量系统[15]。
2011年，孙婷婷，马铁华等采用嵌入式系统进行研究，基于ARM7 LPC21xx开发存储测试系统[14]