2SiC(S) →Si2C(V) + C(S) 1-(1)
2SiC(S) →SiC2 (V) + Si(V) 1-(2)
C(S) + 2Si(V) →Si2C(V) 1-(3)
2C(S) + Si (V) →SiC2 (V) 1-(4)
根据气体自由程与腔内压力成反比的关系,生长过程中通入Ar 气,可以控制反应速度。在生长初期,为了防止其他多型的生长,或是防止杂乱生长,加大Ar 气量,可以抑制生长。现在通常的生长温度为2000 ℃至2400 ℃。生长速率通常随温度升高而增加如图1-3[12],随料源与籽晶间的温度梯度加大而增大,随外加惰性气体气压加大而减小。温度梯度过小会导致生长速率太低,过大会造成晶体开裂且质量不高
4H-SiC晶体中Shockley层错的TEM观察(5):http://www.751com.cn/cailiao/lunwen_76457.html