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第四章：磁编码器的软件设计。首先对开发平台Keil μVision4进行了介绍，包括其特点以及完整的软件开发流程。然后介绍了磁编码器的整体软件设计，并在此基础上对各个功能的实现进行了详细介绍。
第五章：磁编码器的测试与分析。首先对工程下载的方法做了简单介绍，然后对磁编码器进行了测试与分析。其测试内容包括模拟SSI通信时序接收数据测试、AS5145零位编程测试、串口通信测试以及CAN接口通信测试，并对测试结果进行了分析。
2 磁编码器的设计基础
本次磁编码设计采用奥地利micro systems公司的AS5145芯片，该芯片是一个无接触式的磁编码器芯片，能够在整个360°范围内实现高分辨率的旋转位置编码，提供12位分辨率的瞬时位置指示。基于ARM Cortex-M0 的LPC11C24微控制器对AS5145输出的角度位置进行采集，并计算出转速，然后将位置信息与转速通过不同接口输出。本章将对本次设计中使用到的两款芯片做简单介绍，并且介绍速度计算原理。源.自/751·论\文'网·www.751com.cn/
2.1 AS5145的结构和工作原理
AS5145是由CMOS标准过程生产，采用旋转电流霍尔技术检测电路表面上方的磁场分布。集成霍尔元件阵列围绕芯片的中心位置分布，产生一个表征芯片表面磁场的电压。
经过∑-Δ数模转换部分和数字信号处理器（DSP）运算后，AS5145可以提供精确的高分辨率绝对值角度位置信息。为了实现这一目标，需要使用坐标旋转数字计算机（CORDIC）计算角度和霍尔阵列信号的幅值[6]。
此外，DSP还提供了指示磁铁靠近或远离芯片表面运动的MagINCn（磁场强度增加）和MagDECn（磁场强度减小）信号。一个很小的经磁化过的两极标准磁铁就可以用来提供角度位置信息。如图2.1所示为磁铁与AS5145的相对位置。