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1.2.1 电镜观察法
透射电镜和扫描电镜时常用的方法。电镜分析法是一种颗粒度观察测定的绝对方法 ，因而具有可靠性和直观性。举个例子，用透射电镜可评估纳米粒子的平均直径或粒径分布，在纳米材料表征中广泛 运用的是 粒径的计算可采用交叉法 、最大交叉长度平均值法或粒径分布图法。但电镜观察法的测量结果缺乏统计性，这是因为电镜观察使用的粉体量十分少，可能导致观察到的粉体粒子分布范围并不能象征整体粉体的粒径范围。此外，值得注意的是，由透射电镜观察法测量得到是颗粒度而不是晶粒度。质不同晶粒和晶界、微晶和杂质在晶界分析,层状纳米结构,代表的一个重要特点是:程度的厚度的界面和凝聚力,成分分布、缺陷的属性界面等总结,基于纳米材料的结构特性的研究,解释了材料的结构和性能之间的关系提供实验依据 ,最大交叉使用交叉长度方法或粒度分布的方法。由于我们的电子显微镜在技术方面并不是非常完善，在对结果数据的统计上有较大缺陷，主要都是商家在减少成本的时候在电子显微镜中用粉量过少的结果，从而也使得我们在观看到的粉末粒度分布不是整体象征粉末粒径范围。
1.2.2 X射线衍射线宽法
另外值得一提的是对颗粒度的测量是通过投射电子显微镜和 x射线衍射谱线宽度方法是最好的方法测定粒径粒子。多晶,单粒的方法由单粒子的平均粒径,纳米晶体粒度评估适用于本文中 ,实验结果表明,晶粒尺寸50,接近测量值和实际值,另一方面,测量值往往小于实际值。 现在测量往往测量大面积或大量的纳米材料:用于描述单一纳米材料的规模和性质,测试结果是样品的平均结果,获得单个纳米子,纳米管的蒙面西文单奇异特征。
纳米技术虽然发展还不错但是对于纳米的测量技术并不是很发达，所以在对单一的纳米粒子以及纳米管等进行规模与性能进行测量的时候存在比较大的难度。首先, 因为它们的规模相当小，因此单个纳米粒子、纳米管固定夹紧固定和夹紧技术不能用他们的大尺寸。第二,纳米结构的小尺寸想用人工来进行手动操作，不用多想那是几乎不可能的，所以就需要设计出一种能够为纳米结构进行操作的技术。使用原位透射电子显微镜 (tem)测量单个碳纳米管和机械强度的技术,专门应用产生的电场来控制样品夹。可以清楚地观察到在电子显微镜下每一个碳纳米管,并可 能够对单一纳米管进行性能等方面的测试。并且在测试中还可以通过投射电子图像以及衍射光谱来对他的微观结构进行确定。如果在碳纳米管上一个交流电压 ,可以产生机械谐振频率调制电压,并且可以准确地测量共振频率,共振频率可以确定碳纳米管的弯曲模量。
2纳米二氧化硅
纳米材料包含种类比较多其中包括纳米粉体以及二氧化硅粉等，一般都是在一百纳米之间的粉末甚至是颗粒等宏观意义上的固体物质。纳米纤文通常情况下我们都是指的纳米直径比较长的线性材料，纳米管就是最具有代表性的物质。在电影中我们可以把纳米归纳成两中一是颗粒膜而是致密膜，颗粒膜由于小又是膜所以具有引力从而通常情况下是挨在一起的，他们之间有着一些距离。致密膜是指膜层致 密,它是具有和晶粒般的大小，并且是通过了高温或者高压等恶劣因素下形成的金属晶体或者纳米材料。不同的纳米材料,不同的重点研究问题。
2.1 二氧化硅的性质
纳米二氧化硅是第一个实现工业化生产纳米材料在世界广泛的关注由于其独特的性能,和已经在信息、能源、和材料、环境保护、国防、医药、卫生等领域的应用,与我们的食物、衣物、住所密切相关。