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摘要由于电子部件可靠性高、寿命长，所以提出了电子部件恒加应力加速寿命试验来进行电子部件寿命和可靠性指标的评估。通过加速寿命试验中的失效寿命的试验分析，通过威布尔图估法进行分析，再通过最小二乘法进行参数拟合，最后建立了阿伦尼斯模型，从而外推得到了常温贮存条件下的寿命参数，对比其常温下的贮存寿命和恒加速试验寿命参数数据，结果表明与恒定应力下的评估寿命相差不大。这对于评定电子部件在贮存一定时间后的使用性能具有重大的参考价值。28993
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关键词 电子部件 恒加应力 威布尔图估法 寿命评估
毕业论文设计说明书外文摘要
Title Electronic Components Of Constant Stress Accelerated Life Test and Its Storage Life Assessment
Abstract
Its high reliability requires the extremely high reliable assemblies over a long period of time. Within severe time constrains, this paper utilized the accelerated degradation testing to evaluate their reliability and life. The invalided lifetime is analyzed to determine its accelerated model. Use the Weibull figure estimation method to analyze the data. Then, the least square of accelerated lifetime testing data is used to build Arrhenius model and predict the lifetime in normal temperature. Thus, the paper could have significant reference value for usability evaluation of electronic components after a certain period of time.
.Keywords Electronic Components Constant Stress Weibull figure estimation method Lifetime Assessment
目 次
1 引言1
1.1 加速寿命试验 1
1.1.1 恒定应力加速寿命试验 1
1.1.2 步进应力加速寿命试验 2
1.1.3 序进应力加速寿命试验 2
1.1.4 加速寿命试验的选取 2
2 失效模式和失效机理分析 4
3 加速寿命试验的设计方案 5
3.1 加速应力水平的选择样品数量 5
3.2 样品数量和分类 6
3.3 确定测量时间 6
4 电子部件失效的判断 7
4.1 研究电子部件失效的主要方法 7
4.2 失效性研究的步骤 7
4.2.1 样品信息 7
4.2.2 电子部件的各部分的功能分析 9
4.3 失效模式及失效率总述 10
4.4.4 得出失效结论 15
5 试验实施 17
5.1 设计试验 17
5.2 实验数据的记录 18
6 实验数据的处理 18
6.1 图估法 18
6.2 威布尔概率纸 18
6.3 威布尔分布参数及产品寿命参数的图估计 19
6.3.1 形状参数m的图估计 20
6.3.2 特征寿命η的图估计 20
6.3.3 任意时刻失效率F(t)的图估计 20
6.3.4 可靠寿命tr的图估计 20
7 寿命分布类型检验和参数估计 22
7.1 威布尔分布 22
7.1.1 威布尔分布的简介 22
7.1.2 威布尔分布的定义 23
7.1.3 威布尔分布的性质 23
7.2 寿命分布类型检验 24
7.3 失效寿命的参数估计 25
7.4 加速寿命方程 26
7.5 外推其常温下的贮存寿命 26
7.6 影响元器件储存可靠性的因素 27
结论 28
致谢 29
参考文献 30
1 引言
伴随着电子科技的迅速发展，电子产品逐渐开始在武器装备中占据了相当重要的作用而且无法替代。任一复杂的电子系统都是由一系列能完成一定功能的电子部件构成，并且不同的电子部件之间必须通过相互协同工作来完成各种复杂的功能。但是任意一个独立的电子部件在储存、运输或者使用过程中出现的故障，都可能引发电子系统的功能异常或故障,由此造成巨大的经济损失。