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1.1 加速寿命试验
运用传统的寿命试验技术来进行电子部件寿命评估工作，则需要大量的试验时间，并且很难再规定的时间内完成。因此我们往往用加速寿命试验的方式来获取电子部件在高应力水平试验下的寿命数据，再经过适合的统计方法分析，进行外推，从而取得常规应力下的可靠性寿命估量。
加速寿命试验以不改变产物失效机理并且不引入新的无效因子为前提条件，其目标是抬高试验应力，并且加速产物失效进程，再根据加速寿命成效，推测出一般应力下的产品寿命。根据应力施加方式的不同加速寿命试验一般可以划分为3个类型，分别是恒定应力加速寿命试验、步进应力加速寿命试验、序进应力加速寿命试验（简称恒加、步加、序加试验）。