FTA故障树法电子部件失效模式分析(2)

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5.5 综合分析 27

结论 28

致谢 29

参考文献 30

附录A 电子部件的FMECA表 32

1 绪论

1.1 本论文的背景及意义

随着电子技术的高速发展，电子产品逐渐在武器装备中占据了十分重要的地位，并在发挥着无法替代的作用。任何复杂的电子产品均是有能完成一定功能的电子部件组成。不同的电子部件之间通过相互协同工作，才能完成一系列复杂的功能。但相应的，任何单独的一个电子部件在储存、运输或者使用过程中出现损坏或者失效，都可能引发整个电子系统的功能异常或故障，甚至可能影响整个武器装备的性能，并由此造成巨大的经济损失[1]。

据统计，以往设备中出现的故障中有50%~60%都是由电子元器件造成的，而国外20世纪80年代是55%。而经过加强可靠性工作后，某大型设备元器件故障占总故障的约24%；现场调试元器件故障占总故障5%不到[2]。

如今的世界，树立现代的质量观，持续提高可靠性、维修性、保障性水平，已经成为武器装备建设与国防科技发展中的共识。特别是《武器装备质量管理条例》的颁布和实施，表明可靠性在现代质量观中具有战略性、全局性和基础性的地位和作用。高可靠、长寿命、好维修、易测试、能保障、保安全已成为武器装备研制、生产和使用中的普遍要求。可靠性工程活动全面进入武器装备寿命周期的各个阶段，为提高武器装备的效能、降低寿命周期费用发挥着不可替代的作用[3]。

在工程实践中，大多数武器装备都处于飞任务阶段，由于装卸、运输、储存、检测所引起长时间的应力，都将严重影响到产品的可靠性。一般的导弹的电子设备寿命长达10~12年，而任务时间却仅有不到30个小时。其中的非任务时间占到了产品总寿命的99.9%[4]。而在非任务阶段中，储存阶段又是受到的应力持续时间最长的阶段，更应受到足够的重视。因此分析电子部件的失效模式以及失效原因对电子部件的设计具有重要的指导作用。文献综述

1.2 本论文的主要方法和研究进展

1.3 本论文的主要内容

本论文主要讨论的是电子部件可靠性状况，尤其是在军用装备中的电子部件的失效情况和失效机理分析。所选取的研究样品是某子弹的电子部件。子弹是较常见的一种常规武器装备，也是一种常备的武器装备，但它对对储存可靠性的要求也一样很高。本文从电子部件的各个元器件着手，通过对每一个元器件在储存期的可靠性问题，反映折射出对整个子弹的影响。最后通过可靠性强化试验进行验证和分析，得到初步的电子部件失效模型。

1.4 本论文的结构安排

本论文共分为5个部分：第一部分是研究样品的分析，包括电子部件的各模块的作用、所包含的元器件以及电子部件的储存环境分析。第二部分是对该电子部件所包含的元器件的常见非工作失效模式和相应的失效机理进行探究，并预计出非工作失效率。第三部分为失效分析，分别运用到故障模式影响及危害性分析方法（FMECA）以及故障树法（FTA）并将两方面结合起来得出设计初期的可靠性分析。第四部分是试验部分。设计以一系列可靠性强化试验，加速暴露出电子部件的缺陷，对前三部分的分析进行验证和证明。第五部分是将前面的四个部分汇总得出最终的结论和电子部件的失效模型。