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    1.2  偏振研究现状 偏振是光波的基本属性之一,蕴含了被测物体的诸多特征信息,是一种极为重要的检测参数。光波在传播过程中,由于光的入射角和观察角度不同以及物体本身的水分含量、介质特性、表面粗糙度等特征,改变了光线的偏振特性,因此光波的偏振能够包含被测物多方面的信息。由于光的偏振信息无法被常规光电探测器和人眼分辨,所以通常情况下接收到的信息主要来自于光强与光谱信息。利用偏振参数成像这种特定的手段,间接测量出物体的偏振非直观图,对于材料的表征、图像识别等诸多领域具有极为重要的意义,科学界为此做出了诸多了探索。 目前主要有两种偏振测量原理:分振幅法和偏光调制法。早在 1985年 RMA. Azzam 就提出分振幅测量法[5],它实现了对光波偏振态的快速测量,但是要求极高的光学系统装配精度,测量结果极易受到装配精度的影响而降低系统的稳定性[6-7]。偏光调制法广泛用于主动偏振成像系统中的起偏和检偏装置。从调制方法上来分,偏振光的调制主用分为两种——机械调制和相位延迟调试[8]。
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