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⑵、三极管好坏判断方法
①、检测PNP型三极管的好坏 本科毕业设计说明书（论文） 第 8 页 共 67 页
检测 PNP 型三极管的好坏方法如下：
i、首先将三极管用电烙铁从电路板中焊下，然后用纸巾将三极管的引脚清洁干净
（如果锈迹比较严重可以用砂纸打磨）；
ii、选择指针万用表的“R*1K”挡，并调零校正。分别检测三极管集电结和发射
结的正向与反向电阻。
iii、对上述操作的得出结果进行比较，如果集电结、发射结的反向电阻均小于其
自身的正向电阻，且集电结和发射结的正向电阻基本相等，则被检测的 PNP型三极管
是正常的。
②、检测NPN型三极管的好坏
检测NPN 型三极管的好坏方法如下：
i、首先将三极管用电烙铁从电路板中焊下，然后用纸巾将三极管的引脚清洁干净
（如果锈迹比较严重可以用砂纸打磨）；
ii、选择指针万用表的“R*1K”挡，并调零校正。分别检测三极管集电结和发射
结的正向与反向电阻。
iii、对上述操作的得出结果进行比较，如果集电结、发射结的反向电阻均大于其
自身的正向电阻，且集电结和发射结的正向电阻基本相等，则被检测的 NPN 型三极
管是正常的。 【9】
2.1.4 555 芯片测试传统方案
通常通过测量555 芯片引脚的对地阻值，来判断芯片的好坏。
选用数字万用表的二极管挡。分别测量 555 芯片各引脚对地的正、反向电阻值，
并测出已知正常的 555 芯片的各引脚对地间的正、反向电阻，与之进行比较。
如果测量的电阻值与正向电阻的各电阻值基本保持一致，则该 555 芯片正常；否
则，说明555 芯片已经损坏。
2.1.5 运放741 测试传统方案
首先将万用表的旋钮调到直流电压档的“10”挡。
测量集成运算放大器的输出端与负电源端之间的电压值，在静态时电压值会相对
较高。
用金属镊子依次点触集成运算放大器的两个输入端，给其施加干扰信号。
如果万用表的读数有较大变动，说明该集成运算放大器是完好的；如果万用表读
数没有变化，说明该集成运算放大器已经损坏了。
2．2 电子器件测试仪系统的原理框图
电子器件测试仪系统的原理框图如下图图 2-3 所示。
图2-3 电子器件测试仪系统原理框图
3 电子器件测试仪系统硬件设计
3．1 MCS-51单片机电路设计
3.1.1 AT89C51 简介
AT89C51是美国ATMEL公司生产的低电压，高性能CMOS8位单片机，片内含4k
bytes的可反复擦写的只读程序存储器（PEROM）和128 bytes的随机存取数据存储器
（RAM），器件采用ATMEL公司的高密度、非易失性存储技术生产，兼容标准MCS-51
指令系统，片内置通用8位中央处理器（CPU）和Flash存储单元，功能强大AT89C51
单片机可为您提供许多高性价比的应用场合，可灵活应用于各种控制领域。
图3-1 AT89C51 引脚图
主要性能参数：
·与MCS-51产品指令系统完全兼容
·4k字节可重擦写Flash闪速存储器
·1000次擦写周期
·全静态操作：0Hz－24MHz
·三级加密程序存储器
·128×8字节内部RAM
·32个可编程I／O口线
·2个16位定时／计数器
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